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    CMI243測量緊固件的使用說明

    提供者:北京智創翔和科技有限公司   發布時間:2023/8/22 15:49:56  閱讀次數:416次   進入該公司店鋪

     日立CMI243測厚儀在鍍鋅和緊固件行業應用中非常好的理想工具。

    用途:測量緊固件、螺絲、汽車部件、齒輪、管件等表面電鍍層。如:鋅/鐵、鎳/鐵、鉻/鐵、鎘/鐵、銅/鐵等。 

    儀器介紹:

    英國牛津CMI 243鍍層測厚儀是一款門為測量磁性金屬上的如鋅、鎳等鍍層厚度而設計的便攜式膜厚儀。獨特的渦電流測試方法使測量更準確。測量探頭對小、形狀特殊、表面粗糙的樣品上都可以進行準確測量。它具有X射線熒光的測量精度,同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞。 CMI 243在設計上更加合理、可靠、實用。 

    測量技術:

    一般的測試方法,例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式,由于探頭的升離效應導致的底材效應,和由于測試件形狀和結構導致的干擾,都無法達到對金屬性鍍層厚度的準確測量。

    牛津儀器將好新的基于相位的電渦流技術應用到CMI 243鍍層測厚儀,使其達到了±3%以內(對比標準片)的準確度和0.3% 以內的準確度。

     牛津儀器對電渦流技術的獨特應用,將底材效應好小化,使得測量準確且不受零件的幾何形狀影響。

    另外,儀器一般不需要在鐵質底材上進行校準

    優勢:

    1、采用基于相位的電渦流技術,集測量準確、價格合理、質量可靠的優勢于一體的手持式測厚儀。

    2、為金屬表面處理者設計。配置的單探頭可測量,鐵質底上所有金屬鍍層-即使在小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進行測量。

    3、易于用戶控制,并且可以同X線熒光測儀的準確性和精密性媲美。

     CMI243便攜金屬鍍層測厚儀xinjinECP-M探頭

    ECP-M探頭為較難測量的金屬覆層設計,此單探頭可以測量鐵質底材上幾乎所有金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。

     技術參數:

    型號:CMI 243 鍍層測厚儀

    品牌:OXFORD CMI(英國牛津先改名為日立分析儀器) 

    ●ECP-M探頭:鋅、鎳均可以測量 

    準確度:相對標準片±3% 

    準確度:0.3%

    測量范圍:0 -38μm
    分辨率:0.1μm
    適用標準:符合ASTM B244—b259, DIN 50984,ISO 2360,ISO 29168(DRAFT),以及BS 5411 part 3 

    單位:英制和公制單位自動轉換  
    記憶儲存:26500個數據儲存 
    接口:RS-232串行端口,波特率可調,可接打印機或計算機 
    顯示:液晶顯示(LCD),字符高度1/2” (1.27cm) 
    電池:9V干電池或可充電電池。 
    尺寸:57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D) (14.9×7.94×3.02 cm) 
    重量:9盎司/0.26kg, (包括電池重量在內) 

    客戶使用案例:

    緊固件螺絲上鍍鋅,和緊固件大帽鍍鋅層,測量鋅層厚度,利用CMI243儀器可以獲得很好的測試效果。

    樣品:緊固件螺絲,大帽緊固件表面鍍鋅

    使用儀器:CMI243儀器

    測量單位:um微米

     螺絲頂部鍍鋅厚度5.8um                                                           

     螺絲測面鍍鋅厚度5.7um    

      螺絲螺紋鍍鋅厚度5.1um  

    儀器穩定性評定:(測量數據穩定,是普通手持式儀器所無法比擬的

    緊固件螺絲鍍鋅,頂部,測面,螺紋三個位置,連續測量10,計算標準偏差和平均值.

    次數

    螺絲頂部鍍鋅厚度

    螺絲側面鍍鋅厚度

    螺紋鍍鋅厚度

    1

    5.8 um

    5.7 um

    5.1 um

    2

    5.7 um

    5.7 um

    5.2 um

    3

    5.8 um

    5.7 um

    5.1 um

    4

    5.8 um

    5.8 um

    5.0 um

    5

    5.7 um

    5.8 um

    5.2 um

    6

    5.7 um

    5.7 um

    5.2 um

    7

    5.8 um

    5.7 um

    5.1 um

    8

    5.7 um

    5.8 um

    5.3 um

    9

    5.8 um

    5.7 um

    5.1 um

    10

    5.8 um

    5.7 um

    5.1 um

    平均值

    5.76 um

    5.73 um

    5.14 um

    標準偏差

    0.05

    0.05

    0.08

    次數

    大帽頂

    大帽頂側面

    大帽頂內測

    1

    31.4

    32.8

    30.9

    2

    31.5

    32.7

    31

    3

    31.3

    32.9

    31.2

    平均值

    31.4

    32.8

    31.03

    上述表格表明此款測厚儀,重復性很高,精度非常準確。

    測量范圍:

    鐵上鍍層    鍍層厚度范圍     探頭

    Zn            0–38μm       ECP-M

    Cd            0–38μm       ECP-M

    Cr            0–38μm      ECP-M

    Cu            0–10μm      ECP-M

     

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